產(chǎn)品列表
—— PROUCTS LIST
溫度變化對紅外氣體分析儀的干擾
點(diǎn)擊次數(shù):2049 發(fā)布時(shí)間:2013-11-07
紅外線氣體分析儀檢測過程需要在恒定的溫度下進(jìn)行。環(huán)境溫度發(fā)生變化將直接影響紅 外光源的穩(wěn)定,影響紅外輻射的強(qiáng)度,影響測量氣室連續(xù)流動的氣樣密度,還將直接影響檢 測器的正常工作。
如果溫度大大過正常狀態(tài),檢測器的輸出阻抗下降,導(dǎo)致儀器不能正常 工作,甚至損壞檢測器
。紅外分析儀內(nèi)部一般有溫控裝置及溫保護(hù)電路,即使如此,有的儀器示值特別是微量分析儀器,亦可觀察出環(huán)境溫度變化對檢測的影響,在夏季環(huán)境溫度較 高時(shí)尤為明顯。在這種情況下,需改變環(huán)境溫度,設(shè)置空調(diào)是一種解決辦法。
上一篇:紅外氣體分析儀的水分干擾
下一篇:大氣壓力波動對氣體分析儀的干擾